開催概要
材料開発において、電子顕微鏡やX線トモグラフィーを用いて材料の微細構造を観察するために画像を取得することはよく行われています。しかし、微細な粒子一つ一つの大きさを測ることなどは非常に手間がかかる、構造の形状といった重要な項目をどのように数値化すれば良いか分からないといった障壁に直面し、画像データの活用が進んでいない例は少なくありません。
本セミナーでは、このような画像処理にまつわる課題を解決するための技術と、それに加えて画像解析でどのようなことが分かるかを紹介します。
1. 画像の活用でよくある課題とその解決策
材料開発において画像を活用する際に良くぶつかる障壁のパターンと対処する技術を解説します。
2. 深層学習を用いた最新の画像解析で可能になること
深層学習を用いた最新の画像解析手法により、画像からどのような知見を引き出すことが出来るのかを紹介します。
3. 画像解析を用いた材料開発の流れと活用例
画像解析を活用した材料開発がどのような流れで行われるかを、活用例を踏まえて解説します。
参加費用
無料
コンテンツ
- はじめに
- 登壇者より講演：40分
- 質疑応答：20分
講演内容
- MIにおける画像の活用でよくある課題と乗り越える技術
- 深層学習を用いた最新の画像解析で可能になること
- 画像解析を用いた材料開発の流れと活用例
※内容は変更となる場合が御座います。予めご了承願います。
登壇者
和田 直樹
Naoki Wada
MI-6株式会社データサイエンティスト
大学院にてCRESTのプロジェクトに参加し電池材料、磁性体材料の画像解析、機械学習を用いた研究を行う。主著者論文の査読付き論文誌への掲載実績あり。現職ではデータサイエンティストとして幅広いテーマで解析を担当している。
対象者
- 画像処理や数値化を日々の研究開発で活用したい方
- 画像解析によって材料のどのような知見を得られるか理解したい方
申し込み締め切り
2026年6月3日（水）14:00
※申込が多数あった場合は事前に締め切らせていただく可能性がございます
問い合わせ先
※ご登録いただくメールアドレスに、開催前日の参加者の確定を目処に事前案内のメールをお送りします。 迷惑メールの設定や、メールアドレス記載の誤りによって、ご案内ができないケースがございます。 設定確認と登録アドレスに間違いがないよう、ご確認お願いいたします。
※同業他社企業のお申し込みはお断りしております。
